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Sparc

SPARC Compact: 纳米级高速细节洞悉

精巧易用的高效阴极荧光检测器, 让您在更短的时间内洞悉样品特性!

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蓝色和黑色拼接的SPARC Compact外观

充分利用光的力量,于精巧的解决方案中进一步观测探索您的材料

SPARC Compact是一款具有滤色功能的高端阴极发光强度检测器。易于集成到SEM中的SPARC Compact是一种非常可靠的显微解决方案,用以洞悉有关晶体生长分区,置换,变形,物源,地质样品中微量元素的存在以及半导体中缺陷结构等过程。

SPARC Compact的系统高度模块化,这意味着它可以随着您的研究的发展和向前进行升级和增强。同时,我们Delmic的团队也跟这款系统一样将随时为您提供支持,并确保您获得高质量研究结果并离您的目标更进一步。

产品功效

SPARC Compact 可灵活地更换模块
调整与合并

使用可更换的光学模块进行多功能实验

了解样本细节
助力您的实验

同时了解结构组成和发光特性

系统可根据需要随时升级
根据您的需求及时升级

扩展系统以执行更高级的阴极发光成像模式,例如角度分辨和高光谱阴极发光成像

检测面积大
大面积成像和检测

快速PMT检测器可快速检测大面积区域,是地质应用的理想选择

更多规格信息

SPARC Compact如何助力您的研究

SPARC Compact是一种可以直接使用的阴极发光系统,仅需几个简单步骤就能清晰洞悉您的样本。我们借助阴极发光成像的强大功能,帮您不断拓宽研究范围。

David Lindgren博士照片

使用SPARC Compact系统,我们每周进行数百次CL测量,并已开发出用于快速分析数据的方法。

David Lindgren博士

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Sol Voltaics

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如何将SPARC用于我的研究?

如果您的研究领域是地质学和材料科学,SPARC Compact将是一款完美的工具。它能够洞悉有关晶体生长分区,置换,变形,物源,地质样品中微量元素的存在以及半导体中缺陷结构等复杂过程。

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