Odemis
Microscopy software - ODEMIS

 ODEMIS可以让您直接控制荧光和电子显微镜来轻松导航样品。 用户界面有三个不同的流:一个用于获取荧光数据,一个用于获取SEM数据,以及获取两个数据的流。其中,荧光流连接着荧光团数据库。因此,您可以使用多个颜色通道,并且每个通道具有单独的设置。

ODEMIS采用独特的全自动对准程序,可在每个样品上实现精确,无偏的覆盖。 此叠加层可直接在采集软件中显示,使您可以快速调整成像条件。 (有关自动叠加程序的更多信息,您可以下载我们的自动叠加技术说明)。

Integrated software for SECOM

 

SECOM的系统软件

将不同长度尺度获得的不同类型的数据相结合是相关显微成像中的极大挑战。 ODEMIS软件包极大地简化了您的相关成像工作流程,因为您不再需要关注叠加精度和平台坐标,从而有时间专注于成像。


SPARC的系统软件

ODEMIS可以轻松获取和分析数据。通过控制电子束的扫描,可进行二次电子图像、触发光谱和角度分辨图像的采集。随后,光谱响应数据可以立即从数据集中分离,从而显示让人一目了然的 “干净”的光谱。

ODEMIS是成功、有效率获取阴极发光图像的关键。它不仅可以相位校正,还可以同时采集二次电子和光谱(或角度分辨)图像。通过使用ODEMIS,您还可以轻松地在具有任意数量像素的任意大小的网格上获得图像,以及轻松获得大量的角度分辨图像。

Integrated software for SPARC

ODEMIS也用于分析数据的过程。 因此,用户可以容易地将3D CL数据可视化为2D MAP或逐像素图。 该软件还为具有可调整集成限制的3D数据集提供了高级2D切片器。 对于角度分辨图像,该软件允许立即极坐标绘图。 对于光谱图像,软件覆盖SEM和光谱图像。 ODEMIS还提供校正文件(例如系统响应功能)以一次获得校正后的频谱。 最后,该软件提供了自动峰值拟合功能,文件可以轻松传输到例如MATLAB进行详细分析。

显微镜解决方案的软件包

所有DELMIC系统都配有由我们开发的ODEMIS软件。 ODEMIS通过将硬件与简易操作的软件紧密集成,扩展了显微镜的功能。ODEMIS使用开放源代码Python语言编写程序(OME-TIFF和HDF5),这可以让你对硬件的进行全面控制。ODEMIS还具有其他改进成像工作流程的强大工具,其中包括自动对焦,数据导出功能和载物台坐标位置记忆追踪回退。

ODEMIS软件的优点:

  • 简洁、精确的成像工作流程
  • 导航和管理数据的操作过程非常简便
  • 获取数据的时间极短
  • 完全控制硬件和成像算法

如果您想获得当前ODEMIS的版本和所有更改日志的概述,请查看我们的Github的存储库。

ODEMIS Viewer

如果您有兴趣试用 OEMIS, 您可以点击下方链接下载ODEMIS Viewer:

ODEMIS viewer

下载ODEMIS Viewer(Windows 系统)版本:2.8.5,(43 MB) 

安装指南(Linux系统)

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下载安装指南(Linux系统)